北京弱電工程綜合布線系統(tǒng)測(cè)試實(shí)施方案-凱源恒潤(rùn)北京監(jiān)控安裝公司

發(fā)布日期：2023-08-23 / 點(diǎn)擊次數(shù)：597

北京弱電工程綜合布線系統(tǒng)測(cè)試實(shí)施方案-凱源恒潤(rùn)北京監(jiān)控安裝公司

綜合布線系統(tǒng)測(cè)試  

1、測(cè)試描述  

系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收將根據(jù)《建筑與建筑群綜合布線系統(tǒng)工程施工及驗(yàn)收規(guī)范》（GB/T50312-2000）進(jìn)行。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

雙絞線連接：根據(jù)ISO IS 11801國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) Class D （CAT.6）之要求制定

光纖連接：根據(jù)ISO IS 11801國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)Optical Class之要求制定

測(cè)試范圍

水平布線點(diǎn)進(jìn)行100%測(cè)試，數(shù)據(jù)主干進(jìn)行100%測(cè)試。

被測(cè)線路的定義

雙絞線連接

光纖連接

測(cè)試項(xiàng)目

銅纜測(cè)試項(xiàng)目

使用FLUKE DSP-4000系列測(cè)試儀測(cè)試雙絞電纜時(shí)，提供如下內(nèi)容：

接線圖

電阻

長(zhǎng)度

傳輸遲延

遲延偏離

阻抗

近端串?dāng)_（NEXT-Near-end Crosstalk）

衰減

衰減串?dāng)_比（ACR）

環(huán)路損耗（RL-Return loss）

功率總和的近端串?dāng)_(PS NEXT)

功率總和的遠(yuǎn)端串?dāng)_(PS FEXT)

功率總和的等電平遠(yuǎn)端串?dāng)_(PS ELFEXT)

光纖測(cè)試項(xiàng)目

測(cè)試波長(zhǎng)：1300nm或850nm；

主干子系統(tǒng)光纖連接：

信號(hào)衰減 < 1.5dB （500m，波長(zhǎng)1300nm）

信號(hào)衰減 < 3.5dB （500m，波長(zhǎng)850nm）

2、測(cè)試儀器的選用  

對(duì)于銅纜測(cè)試建議采用美國(guó)FLUKE公司的局域網(wǎng)電纜測(cè)試儀，該測(cè)試儀是一種手持式的儀器，它可用來對(duì)安裝的局域網(wǎng)雙電纜線、同軸電纜進(jìn)行認(rèn)證、測(cè)試以及故障診斷，該儀器使用了新的測(cè)試技術(shù)，它將脈沖測(cè)試信號(hào)和數(shù)字信號(hào)處理結(jié)合起來提供了快速精確的測(cè)試結(jié)果。它提供的測(cè)試結(jié)果符合IEEE、ANSL、TAI、ISO/IEC等有關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。使用該儀器可對(duì)綜合布線工程的質(zhì)量提供可靠的依據(jù)。對(duì)于光纖測(cè)試使用兩個(gè)光纖損耗測(cè)試儀??用來測(cè)試光纖傳輸損耗，為了使在兩個(gè)地點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的操作員之間進(jìn)行通話需要有對(duì)講機(jī)，也可以使用美國(guó)FLUKE公司的DSP-4000（需配光纖測(cè)試模塊及適配器）來完成測(cè)試。

由本公司派出工程師在用戶方與監(jiān)理工程師監(jiān)督下共同完成整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試工作，并填寫測(cè)試表。

設(shè)置電纜類型

執(zhí)行自檢

分別用跳線將主機(jī)和遠(yuǎn)端器連接在被測(cè)網(wǎng)段上

按動(dòng)主機(jī)上的TEST鍵，片刻后儀器將顯示出測(cè)試結(jié)果

存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果

作為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)的重要成員、ISO/IEC 11801第二版的編輯，時(shí)刻把握國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的最新動(dòng)態(tài)。

此工程的驗(yàn)收將測(cè)試信道(Channel)的性能，如下圖所示：

A+E=10mmax.

信道測(cè)試內(nèi)容包括：

﹣連通性

﹣端接線序(Wire Map)

﹣直流電阻

﹣特性阻抗

﹣衰減(Attenuation)

﹣近端串?dāng)_衰減(NEXT loss)

﹣功率總和近端串?dāng)_衰減(PS-NEXT loss)

﹣衰減串?dāng)_比(ACR)

﹣功率總和衰減串?dāng)_比(PS-ACR)

﹣等效電平遠(yuǎn)端串?dāng)_衰減(ELFEXT loss)

﹣功率總和等效遠(yuǎn)端串?dāng)_衰減(PS-ELFEXT loss)

﹣回波損耗(Return Loss)

﹣時(shí)延(Delay)

﹣時(shí)延偏差(Delay Skew)

本工程測(cè)試驗(yàn)收所采用的為美國(guó)FLUKE公司的測(cè)試儀配專用6類適配器,該測(cè)試儀有以下特性：

1．支持頻帶寬達(dá)250MHz。

2．驗(yàn)證6類布線。

3．具有100dB的動(dòng)態(tài)量程。

4．快速自動(dòng)測(cè)試，提供較好的工作效率。

5．具備自學(xué)式的數(shù)據(jù)管理功能。

根據(jù)ISO/IECJTC1/SC25/WG3N568規(guī)范，新的超五類TIA/EIA-568B.2-1標(biāo)準(zhǔn)信道（CHANNEL）有以下指標(biāo)：

-衰減（Attenuation）≤22dB@100MHz

-近端串?dāng)_衰減(NEXTloss)≥35.3dB@100MHz

-功率總和近端串?dāng)_衰減(PS-NEXTloss)≥32.3dB@100MHz

-衰減串?dāng)_比(ACR)≥14.0dB@100MHz

-等效電平遠(yuǎn)端串?dāng)_衰減(ELFEXTloss)≥23.8dB@100MHz

-功率總和等效遠(yuǎn)端串?dāng)_衰減(PS-ELFEXTloss)≥20.8dB@100MHz

-回波損耗(ReturnLoss)≥20.1dB@100MHz

-時(shí)延(Delay)≤536nS@100MHz

-時(shí)延偏差(DelaySkew)45nsMax

光纖的測(cè)試

光纖路徑損耗的測(cè)試步驟

設(shè)置測(cè)試設(shè)備

按光纖損耗測(cè)試設(shè)備一起提供的指令來設(shè)置它們。

調(diào)零

調(diào)零用來消除能級(jí)偏移量，當(dāng)測(cè)試非常低的光能級(jí)時(shí)，不調(diào)零則會(huì)引起很大的誤差，調(diào)零還能消除跳線的損耗，為了調(diào)零，在位置A用一跳線將測(cè)試儀的光源(輸出端口)和檢波器插座(輸入端口)連接起來，在光纖路徑的另一端(位置B)

完成同樣的工作，你必須在兩個(gè)位置(A和B)上對(duì)兩個(gè)測(cè)試儀調(diào)零，參看圖1。

按自校按鈕

連續(xù)按住自校按鈕一秒鐘以上，等待20秒鐘的時(shí)間來完成自校準(zhǔn)。

測(cè)試光纖路徑中的損耗(位置A到位置B方向上的損耗)參看圖2。

在位置A的測(cè)試儀上從檢波器插座(IN端口)處斷開跳線S1，并把S1連接到被測(cè)的光纖路徑上。

在位置B的測(cè)試儀上從檢波器插座(IN端口)處斷開跳線S2。

在位置B的測(cè)試儀檢波器插座(輸入端口)與被測(cè)光纖通路的位置B末端之間用另一條光纖跳線連接起來。

測(cè)試光纖路徑中的損耗(位置B到位置A)

在位置B的光纖路徑處將跳線D2斷開；

將跳線S2(位置B處的)連接到光纖路徑上；

 從位置A處將跳線S1從光纖路徑上斷開；

用另一條跳線D1將位置A處測(cè)試儀檢波器插座(IN端口)與位置A處的光纖路徑連接起來；在位置A處的測(cè)試儀上測(cè)試出B到A方向上的損耗。

計(jì)算光纖路徑上的傳輸損耗，然后將數(shù)據(jù)認(rèn)真地記錄下來。

計(jì)算時(shí)采用下列公式：

平均損耗=[損耗(A到B方向)+損耗(B到A方向)]/2、

記錄所有的數(shù)據(jù)

當(dāng)一條光纖路徑建立好后，測(cè)試的是光纖路徑的初始損耗，要認(rèn)真地將安裝系統(tǒng)時(shí)所測(cè)試的初始損耗記錄在案。

以后當(dāng)某條光纖路徑工作不正常時(shí)，要進(jìn)行測(cè)試，這時(shí)的測(cè)試值要與最初測(cè)試的損耗值比較，若高于最初測(cè)試的損耗值，則表明存在問題，可能是測(cè)試設(shè)備的，也可能是光纖路徑的問題。

重復(fù)此過程

如果示出的數(shù)據(jù)高于最初記錄的損耗值，那么要對(duì)所有的光纖連接器進(jìn)行清洗，此外，你還要檢查對(duì)設(shè)備的操作是否正確，還要檢查測(cè)試跳線連接條件。

如果重復(fù)出現(xiàn)較高的損耗值，那么就要檢查光纖路徑上有沒有不合格的接續(xù)，損壞的連接器，被壓住/ 挾住的光纖等等。

記錄測(cè)試數(shù)據(jù)

按如下圖表填寫測(cè)試數(shù)據(jù)

光纖損耗測(cè)試數(shù)據(jù)單

地線測(cè)試選用的儀表為接地電阻測(cè)試儀。其性能有以下保證：

1．保護(hù)地線的接地電阻值，單獨(dú)設(shè)置接地體時(shí)，不大于4歐；

2．采用聯(lián)合接地體時(shí)，不大于1歐。

若測(cè)試結(jié)果表明所有連接（包括光纖連接和雙絞線連接）滿足以上所ISO/IEC IS 11801標(biāo)準(zhǔn)中的要求，可以確認(rèn)工程合格。